基于对现代RF半导体器件进行系统校准所需测量的复杂性，将测试和测量设备与探针系统适当集成耗时且价格昂贵。鉴于对测量结果产生影响的因素较多，构建一个能准确、可重复提供测试结果的测量系统颇具挑战。影响的因素包括：用户界面、探针系统的机械性能、RF探头的电学和机械性能、网络分析仪和探针系统的机械连接和集成、软件的功能性和使用性等。另外，矢量网络分析仪（VNA）必须在一个宽的频率范围内提供对要求高的被测设备（例如放大器和转换器）进行完整、准确的系统校准所需的射频性能和功能。

为了应对这些挑战，旺矽科技股份有限公司和罗德与施瓦茨公司携手合作已成功将R&S VNA、MPI工程探针系统和RF附件相整合。双方公司称，这是基于毫米波混频器的无缝集成、为在毫米波和亚毫米波（THz）频率下实现高精度测量而专门设计的第一个探针测试系统。

该TITAN™ RF探针能够出色、实时地查看针头触点，实现了探针的高精确度定位。与合格的MPI校准基片一起，TITAN探针技术覆盖频率可高达110GHz。MPI提供完整的系统，包括探针、校准标准件和其它附件。直观的QAlibria™校准软件具有多点触控功能和多语言界面，支持R&S^® ZVA和R&S^® ZNB VNA。与美国国家标准技术研究所（NIST）提供的StatistiCAL^®的紧密集成有助于简单、可信的对R&S VNA进行计量级校准。

带有罗德与施瓦茨公司混频器的R&S® ZVA以高度稳定的频率源为特征，非常适合在毫米波频率下进行在片器件的系统校准。混频器已经在机械层面进行了优化，非常适用于在片测试。