泰克公司(Tektronix, Inc.)宣布推出吉时利(Keithley) S530参数测试系统的重大软件更新（KTE 5.6版），能够将测量时间减少25%。这将增加晶圆级测试吞吐量，并直接降低拥有S530产品的半导体生产和研发部门的购置成本。

降低生产成本和增加产能是半导体生产公司的关键目标，这些公司还必须解决不断变化的材料演进和器件设计的革新。产线上的参数测试吞吐量和测试系统购置成本与完成半导体晶圆所需的测量总时间直接相关。新推出的吉时利S530测试系统的KTE软件通过大幅提高测试速度，向着这一目标迈进一步。

泰克公司吉时利产品线总经理Mike Flaherty表示：“说到生产和测试现代化的集成电路器件，降低购置成本是关键。凭借最新推出的软件版本，我们进一步降低了参数测试系统购置成本，缩短了测量时间，从而提高产线晶圆测试吞吐量。这将帮助我们的客户提高利润和在快速发展的行业里保持竞争力。”

S530软件更新版本通过缩短弱电流测量的建立时间从而增强源测量单元的测试速度。更快的电流测量将带来更快的系统测量速度。新的系统测量设置和无缝链接的的软件执行结构进一步提高系统速度。此次更新还包括整合了泰克的最新吉时利数字万用表，用于更快的低电压和低电阻测量。

S530应用
优化的S530适用于广泛的分立器件组合或广泛的应用灵活性结合的参数测试环境，而快速制定测试计划也至关重要。除了通常用于测试标准的互补金属氧化物半导体、双极性晶体管、微电子机械系统以及其它电压相对较低如200V的半导体工艺制程外，吉时利还提供独有的一千伏高压测试系统，用于GaN、SiC和Si LDMOS电力装置所需的高击穿电压和低漏流测试需求。