2013年3月12~14日第一届EDI CON(电子设计创新大会)2013在北京国际会议中心圆满落幕。由Horizon House出版集团、Microwave Journal杂志、ACT 国际商讯公司主办，面向微波、无线、导航、航空航天、雷达、通信、测试、计算以及相关市场的行业盛会，EDI CON 2013集研讨、展览于一身，为国内的工程技术、设计、工程管理等人员提供了解当前先进的微波、RF、通信、测试、设计工具、材料、EMC/EMI以及高速数字电路与系统设计等解决方案以及行业发展趋势的机会，反映了当今这些领域的最新技术发展状况，为中国微波、无线、航空航天、导航、雷达、计算、通信、测试、设计工具、材料的技术与商业的发展提供了交流与展示的平台。

为期两天半的EDI CON 2013大会汇集了近60家微波、RF、测试、设计工具、通信、EMC/EMI等厂商，近100场技术、商务研讨会以及小组讨论会议。参展商包括白金赞助商安捷伦（Agilent）公司、金牌赞助商罗德与施瓦茨（Rohde&Schwarz）、安立（Anritsu）、CST、ANSYS、AWR、国家仪器（National Instruments）公司、银牌赞助商中国电科（CECT） 41所、Mini-Circuits、OMMIC、派更（Peregrine）、盛昌（Sanetronic）、思博伦（Spirent）、泰克（Tektronix）等众多公司。

 研讨会共分四个板块：设计、测量与建模、系统工程、商业资源。囊括了放大器、接收器、滤波器、检波器、天线、开关、VCO/PLL、测量、连接器、信号分析、MMIC、3G/4G、GaN、MIMO OTA、EDA、材料、化合物半导体、信号分析、功率检测等诸多议题。研讨会每天吸引了1000多听会代表，同时吸引了来自中国移动、中国联通、中兴等运营以及设备企业参观此次大会。

 很多公司也在研讨会期间推出了新的产品与技术。比如：

Agilent公司推出了针对国防、航空航天等高精尖领域发展的高性能实时频谱分析仪PXA，应对恶劣环境等现场测试的十合一射频仪表Fieldfox，精确测量小信号的高清示波器9000H系列。

NI公司介绍了其基于PXI架构的最新VST(矢量信号发生仪)以及基于VST的信道仿真器与全新WLAN802.11ac测试方案；被NI收购的AWR公司展示了用于开发高频无线设计的具有新的功能和增强功能的AWR Design Environment 10.04最新版本，包括Microwave Office®/Analog Office® 电路设计软件和Visual System Simulator™ (VSS)系统设计软件，以及AXIEM® 3D平面电磁（EM）软件和 Analyst™有限元法（FEM）EM软件的更新和创新技术。

CECT41所展示其最新推出的捷变频信号发生器AV1450系列，频率覆盖10MHz~20GHz，可实现全频段任意频率、功率捷变，时间小于200ns，比传统信号源的频率切换时间提高了5万倍，用于军事对抗、雷达等应用。

Spirent公司介绍了通过基于实验室的真实条件测试来预测用户终端体验质量的Live2Lab实验室，为移动运营商、无线基础设施厂商和设备制造商提供了移动体验测试真实性。

泰克公司提出了采用10位商用DAC TDAC-25的高性能任意波信号发生器AWG7000, 可满足宽带电子、高速串行通信、光网络及高级研究应用领域的广泛和高标准的信号发生需要。

 派更（Peregrine）半导体公司展示了基于UltraCMOS工艺的DuNe数字可调电容器，在失配导致滤波器损耗增加、功放效率降低和天线失配的复杂无线设计中，可以通过整体集成的固态阻抗调谐解决方案提供信号链性能。

  与会者纷纷表示：“这是近几年在北京举办最成功的行业会议之一。”R&S公司的一位工作人员告诉我们：“我昨天才出差回来今天就赶过来了，同事介绍说EDI CON展会办的很成功，吸引了大批行业高精尖人士，果然如此。”来自Spirent公司亚太区无线部业务发展总监王兴扬表示：“虽然此次展会规模不如其他展会大，但是聚集了行业最完整的测试设备企业，参观观众业务水平高，针对性很强，研讨会内容涵盖了行业最新技术发展方向。”CECT41所一位工作人员表示：“这次展会可以说及时反映了目前行业发展的最新动态，为行业交流提供了有力的平台。”

 Mirowave Journal杂志David Vye表示：“EDI CON 2013大获成功，大大超出了我们最初的预期，第一次在中国举办这样的活动，我们曾要求赞助商、参展企业以及参会代表相信我们对行业活动的价值观，即商业公司在技术讲座以及研讨会内容方面的决策中扮演重要角色。让我们非常满意的是，论文材料的质量超出了预期，听众与讲师之前的互动非常健康。研讨会之后的各种反馈也激励我们开始筹划明年的EDI CON。”

相关研讨会的ppt内容请参见http://www.microwavejournal.com/media/videos/3574；http://www.microwavejournal.com/media/videos/3575

 展会图片详见：http://www.microwavejournal.com/media/photos/28